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dc.contributor.advisorSouza, Paulo Eduardo Narcizo de-
dc.contributor.authorSantos, Juliana dos Anjos Ribeiro dos-
dc.date.accessioned2026-06-19T00:59:58Z-
dc.date.available2026-06-19T00:59:58Z-
dc.date.issued2026-06-18-
dc.date.submitted2026-01-21-
dc.identifier.citationSANTOS, Juliana dos Anjos Ribeiro dos. Estudo por FMR da dependência do efeito exchange bias em função da espessura de Ru(x) em filmes multicamadas de Si/Ru/IrMn/Co/Ru(x)/Py/IrMn/Ru. 2026. 76 f., il. Dissertação (Mestrado em Física) — Universidade de Brasília, Brasília, 2026.pt_BR
dc.identifier.urihttp://repositorio.unb.br/handle/10482/54934-
dc.descriptionDissertação (mestrado) — Universidade de Brasília, Instituto de Física, Programa de Pós-Graduação em Física, 2026.pt_BR
dc.description.abstractFilmes magnéticos finos são materiais bidimensionais cujas propriedades magnéticas dife rem significativamente daquelas de seus correspondentes volumétricos. A principal moti vação para seu estudo reside em seu potencial de aplicação em tecnologias avançadas de armazenamento de dados, em particular na gravação magnética. Este trabalho utiliza fil mes multicamadas do tipo Si/Ru/IrMn/Co/Ru(x)/Py/IrMn/Ru. A interação magnética entre as camadas ferromagnéticas (Co e Py) e as camadas antiferromagnéticas de IrMn deve se manifestar por meio do efeito de exchange bias, caracterizado por um desloca mento assimétrico do ciclo de histerese M×H ao longo do eixo do campo magnético. A técnica de espectroscopia de ressonância ferromagnética (FMR) é amplamente consoli dada para a determinação dos principais parâmetros de sistemas magnéticos e facilita a investigação de camadas acopladas, permitindo medições precisas de parâmetros funda mentais, como as constantes de anisotropia. Nesse contexto, este estudo emprega a técnica de FMR para examinar o efeito da espessura da camada central de Ru(x) sobre o efeito de exchange bias nas multicamadas mencionadas. Por meio da investigação sistemática da dependência angular dos campos de ressonância no plano do filme, foram encontradas evidências claras da presença de anisotropia magnética unidirecional no plano em todos os filmes investigados, bem como uma dependência complexa e não monótona do exchange bias com a espessura do espaçador Ru(x).pt_BR
dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)pt_BR
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.titleEstudo por FMR da dependência do efeito exchange bias em função da espessura de Ru(x) em filmes multicamadas de Si/Ru/IrMn/Co/Ru(x)/Py/IrMn/Rupt_BR
dc.title.alternativeFMR study of the Exchange Bias effect as a function of Ru layer’s thickness in Si/Ru/IrMn/Co/Ru(x)/Py/IrMn/Ru multilayerspt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR
dc.subject.keywordRessonância ferromagnética,pt_BR
dc.subject.keywordFilmes magnéticospt_BR
dc.description.abstract1Magnetic thin films are two-dimensional materials with magnetic properties that differ greatly from their bulk counterparts. Their primary investigation motivation lies in their potential application in advanced data storage technology, particularly magnetic record ing. This study employs Si/Ru/IrMn/Co/Ru(x)/Py/IrMn/Ru multilayer films. The mag netic interaction between the ferromagnetic layers (Co and Py) and antiferromagnetic IrMn layers is expected to manifest itself in the exchange bias effect, which is character ized by an asymmetric displacement in the hysteresis MxH loop along the magnetic field axis. The ferromagnetic resonance spectroscopy (FMR) technique is well established for determining the main parameters of magnetic systems and facilitates the investigation of coupled layers, providing precise measurements of key parameters like anisotropy con stants. In that sense, this study employs FMR to examine the effect of the Ru(x) central layer’s thickness on the exchange bias effect of the previously mentioned multilayer films. By systematically probing the angular dependence of the in-plane resonance fields, we found clear evidence of an in-plane unidirectional magnetic anisotropy in all films inves tigated, along with a complex, non-monotonic dependence of the exchange bias on the Ru(x) spacer thickness.pt_BR
dc.description.unidadeInstituto de Física (IF)pt_BR
dc.description.ppgPrograma de Pós-Graduação em Físicapt_BR
Aparece nas coleções:Teses, dissertações e produtos pós-doutorado

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